重庆科晓仪器有限公司

 梅特勒 超越系列XS分析天平主要特点1.采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果2.全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性3.变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求4.革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果5.易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量6.触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置7.可移动的显示控制终端，方便天平使用8.完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁9.内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备10.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求11.具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序12.e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新
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