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黑色硅与拉曼光谱“结合” ,可超灵敏检无损检测毒害物质

放大字体  缩小字体 发布日期:2018-06-20
核心提示:一组物理学家通过实验证实,通过使用黑色硅(b-Si)基底的表面增强拉曼光谱(SERS)能够非常可靠地检测到并识别有毒物质,爆炸物,污染物以及其他危险物质的分子指纹图谱。这项工作的结果发表在权威科学杂志Nanoscale上。
   来自远东联邦大学(FEFU)的科学家与来自俄罗斯科学院(RAS),澳大利亚和立陶宛大学的科学家合作,改进了超灵敏非分光光谱鉴定分子指纹技术。
 
  一组物理学家通过实验证实,通过使用黑色硅(b-Si)基底的表面增强拉曼光谱(SERS)能够非常可靠地检测到并识别有毒物质,爆炸物,污染物以及其他危险物质的分子指纹图谱。这项工作的结果发表在权威科学杂志Nanoscale上。
 
 
  研究小组负责人Alexander Kuchmizhak博士表示:“使用SERS光谱检测最小的分子时,它们与纳米结构底物的相互作用是至关重要的,该平台允许超灵敏的鉴定”。 亚历山大是FEFU自然科学学院理论与核物理系的研究员。 他还补充说:“贵金属基材料具有的化学活性扭曲了自身特征分子信号。”
 
  “由于硅的特殊形态,黑色硅显着增强了所需分子的信号,但这种纳米材料不支持催化转化物的分析,因为这种材料可能在被分析额金属基底中,基于化学物质的“黑色硅”底物是独一无二的:绝对的化学惰性,无创性,可以支持强大的非失真信号”Alexander Kuchmizhak表示。
 
  通过使用易于实现的可扩展的等离子蚀刻技术可以制造这种基板,因此这种基本具有良好的商业应用前景。具有高检测准确度的、价格便宜的非金属基材对于常规SERS应用是有希望的,其中非侵入性对检测过程非常重要。
 
  通过国家之间广泛的科学合作,科学家们最终发现了黑色硅的宝贵性质。
 
 
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