铜镀银X射线无损测厚仪

【产品名称】铜镀银X射线无损测厚仪

铜镀银X射线无损测厚仪可以快速检测出镀银层厚度，同时可以测试镀金,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等，最多一次性可以测多层，人员简单培训即可操作。

【铜镀银X射线无损测厚仪性能特点】

长效稳定X铜光管

半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷

采用天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE）

内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品

脉冲处理器，数据处理快速准确

手动开关样品腔，操作安全方便

三重安全保护模式

整体钢架结构、外型高贵时尚

FP软件，无标准样品时亦可测量

【铜镀银X射线无损测厚仪部分产品】

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【铜镀银X射线无损测厚仪技术指标】

型号：THICK600铜镀银X射线无损测厚仪

分析范围： Ti-U，可分析最高3层15个元素

分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）

测量时间：40秒（可根据实际情况调整）

探测器分辨率：（160±5）eV

光管高压：5-50kV

管流：50μA-1000μA

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：30%-70%

准直器：配置不同直径准直孔，最小孔径φ0.2mm

仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

仪器重量：30kg

【铜镀银X射线无损测厚仪应用领域】

铜镀银X射线无损测厚仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。