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电镀层镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
电镀镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
技术参数：
元素分析范围：从硫（S）到铀（U）
同时分析几十种以上元素，五层镀层
分析检测限可达2ppm,镀层分析可以最低0.005um厚度样品
分析含量一般为1ppm到99.9%
镀层厚度一般在50um以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
温度适应范围：15度到30度
仪器配置：
高压电源：0-50kv
光管管流：0uA-1000uA
滤光片：可选择多种定制切换
探测器：Si-Pin/（SDD可选）
多道分析器
样品腔尺寸：310*280*60 (mm)
外部尺寸：380*372*362
重量： 29kg
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900A型X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比：
| 镀层标准厚度（μm） | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
| 镀层荧光厚度（μm） | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |
2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的，见下表：
| 镍镀层标准厚度（μm） | 0.15 | 0.85 | 1.30 | 2.15 | 4.56 | 8.13 | 9.55 |
| 镍镀层荧光厚度（μm） | 0.13 | 0.88 | 1.33 | 2.20 | 4.60 | 8.25 | 9.48 |
| 金镀层标准厚度（μm） | 0.23 | 0.45 | 0.75 | 1.15 | 1.22 | 1.53 | 1.65 |
| 金镀层荧光厚度（μm） | 0.21 | 0.43 | 0.77 | 1.17 | 1.26 | 1.55 | 1.58 |
3.仪器长期稳定性评定
单镀层Ni/Cu稳定性测定：连续测定20次，计算其标准偏差和相对标准偏差，均能达到很好的效果。
| 测量 次数 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 |
| Ni(um) | 1.778 | 1.783 | 1.774 | 1.78 | 1.774 | 1.765 | 1.784 | 1.763 | 1.759 | 1.769 |
| 测量 次数 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 |
| Ni(um) | 1.751 | 1.768 | 1.78 | 1.763 | 1.792 | 1.768 | 1.792 | 1.762 | 1.752 | 1.754 |
| 平均 厚度 | 1.771 | 标准 偏差 | 0.01231 | 相对标 准偏差 | 0.00695 |
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