粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪(菲希尔代理)

粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层后的测量。工作原理是：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪的使用方法

   1、测量前应用标准片校准。在基体上进行一次测量，仪器显示。按一下“ON/C”键，屏显<0.00μm>即完成零点校准。要准确地校准零点，须重复上述步骤以获得基体测量值小于1μm，这样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。

   2、测量，迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，提起测头可进行下次测量。通常由于仪器每次读数并不完全相同，因此必须在每一被测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在指定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此。我们一般都是在被测物上选5个点进行测量。记下数据即可。

粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪的保养及注意事项

1、严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污。

2、定期给主机充电：一般每工作8—24小时充电一次，每次充电12—14小时。

3、测量前，应清除表面上的任何附着物，如尘土、油脂及腐蚀物质等，但不要去除任何覆盖物。

粉未测厚仪/氧化膜厚测试仪的操作流程

第一步：清除校准记忆（仪器对多次校准操作具有记忆性）

第二步：零值校准（校准和测量的条件越相似测量越准确）

第三步：纠正性校准（由于仪器对多次校准操作具有记忆性，建议一个标准片校准一次）

 
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