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GM2200面筋数量和质量测定系统
瑞典波通仪器公司研制并生产的面筋测定系统已于1982年成为世界公认的标准。面筋数量及质量测定系统可在10分钟内测定小麦或面粉的
2017-01-14
FN1000降落数值仪
国际标准方法用于发芽损伤的测定降落数值仪检测谷物和面粉中的-淀粉酶活性来检测发芽损伤,优化淀粉酶活性确保谷物交易的质量。-
2017-01-14
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