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保持整个气路系统的洁净
ECD对杂质十分敏感，故使用中每一环节均要考虑是否带入污染杂质。外来杂质进入ECD池，将出现两种异常：一是放射源表面污染，使放射源电离能力下降，从而使直流电压和恒频率方式ECD基流下降或恒电流方式中基频增高；二是杂质直接俘获ECD中的电子，使基流下降或基频增高。两者最终均导致灵敏度降低。
具体的保洁措施是：
（1）系统气密性好通过气密性实验，确保从气源至检测器出口的整个气路系统气密性好，无空气漏入。
（2）气体纯度高载气及尾吹气均应用纯度大于99．99％的纯气，或大于99.999％以上的高纯气。
（3）隔垫流失小进样口隔垫应用耐高温垫。使用前，可放在柱恒温箱中于250℃下老化8-12h，甚至再用溶剂萃取，然后使用。
（4）汽化室洁净汽化室中玻璃棉及玻璃插管应定期更换。
（5）柱流失小色谱柱应在比实际使用温度至少高25℃的温度下充分老化，低柱温使用。
（6）样品洁净“脏样品”应作净化处理。溶剂应用二次蒸馏的烷烃、芳烃或一氯烃。
（7）毛细管柱两端洁净当汽化室或检测器温度高时，可能使毛细管柱外的聚酰亚胺涂层分解成挥发性组分进入ECD池，为此，可用低温火焰，如丁烷打火机将其烧掉，以保持柱两端洁净。
（8）检测器温度高于柱温10℃以上。
（9）保持吹扫气暂时停机时，保持少量吹扫气通过ECD。
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检测器污染及其净化
可据下迹象之一判断ECD可能污染：
· 直流和恒频率方式ECD基流下降或恒电流方式基频增高。如HP6890气相色谱仪ECD，设计值是100－600Hz基频为洁净；实际判断时，通常认为大于500Hz即可能有污染；
· 噪声增大，信噪比下降；
· 基线漂移变大；
· 线性范围变小；
· 出负峰，通常是在大峰后有负峰。
对已经污染的ECD，操作者可用以下实验室简便净化ECD法之一处理：
（1）热清洗法，通常轻度污染常用此法。首先确保气路系统不漏和无污染［（2）、（3）法同］。然后，卸下色谱柱，用闷头螺帽将柱接检测器的接头堵死。调N2尾吹气至50－60mL/min，升检测器温度至350℃左右（63Ni源），柱温250℃，保持4－8h。最后，冷至通常操作温度，观察基频是否下降至正常值。如有效但还不够，可重复处理之。
（2）热水蒸汽洗换上洁净的汽化室插管，将原柱卸下，换上一根洁净的短空柱，通N2气，保持通常流速。升检测器、汽化室和柱温分别为300－350℃、200℃和150℃。用微量注射器从进样口注入去离子50－100uL，连续注射，共注射10－20次。若原接毛细管柱，即换一根未涂固定液的短毛细管柱，每次注入10－15uL，共注射50－100次。这样，利用热水蒸气流清洗ECD池。该法对大多数污染均可清除。但操作麻烦（若用自动进样器可减轻一些工作量），占用时间长，清洗一次需1－2天，近年已较少使用。
（3）氢烘烤这是近年较常用的方法。只需将载气或尾吹气换成氢气，调流速至30－40mL/min汽化室和柱温为室温，将检测器升至300－350℃，保持18－24h，使污染物在高温下与氢作用而除去。氢烘烤毕，将系统调回至原状态，稳定数小时即可。
如以上各法均无效，即需与生产厂家联系处理。
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防止ECD过载
在色谱分析中可能因进样量大（或样品浓度大），出现柱过载或检测器过载。一般4mm内径填充柱可容许每个峰最大达0．5－1mg，内径为0．25mm的WCOT柱为每峰小于（2－5）×10－8g。
在用ECD作环境样品中痕量污染物分析时，每峰样品量为10－8－10－13g。这当然不会引起柱过载，但对线性范围窄的ECD，则很容易达响应饱和。其表现为峰高不再增加（或增加较小），而半峰宽增大。此亦称ECD过载。显然，它必将给定量带来很大的误差。这时，必须用溶剂将样品稀释至ECD的线性范围以内，再测定。
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注意放射性ECD中有放射源
为防止放射性危害，使用中应注意：
（1）检测器出口应用金属或聚乙烯管通至室外，于避风、雨及非人行道处；
（2）经培训并有处理放射性物质许可证者，才可拆卸ECD，否则不得拆卸；
（3）按正规要求，至少每6个月要进行一次放射性泄露检测。
