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高分子领域常用的表征方法之电子显微镜(SEM)

放大字体  缩小字体 发布日期:2018-04-04
核心提示:电子显微镜是一种电子光学微观分析仪器,是将聚焦到很细的电子束打到试样上待测定的一个微小区域,产生不同的信息,加以收集、整理和分析,得出材料的微观形貌、结构和化学成分等有用的信息,如透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)和电子探针分析(EPA)等。
   电子显微镜是一种电子光学微观分析仪器,是将聚焦到很细的电子束打到试样上待测定的一个微小区域,产生不同的信息,加以收集、整理和分析,得出材料的微观形貌、结构和化学成分等有用的信息,如透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)和电子探针分析(EPA)等。电子显微镜在分析研究高聚物时有以下应用:
 
  a.电镜可观察非晶态高聚物微观形态,其存在大小为3~10nm的“球粒结构”和局部有序区域;
 
  b.用电镜可以观察到聚合物的各种结晶形态,如折叠链晶片、串晶、伸直链晶等
 
  c.研究纤维和织物的织构及其缺陷特征,同时还用于研究纤维的断裂特征,从而进一步弄清楚各种纤维的断裂机理等;
 
  d.电镜广泛用于各种聚合物及其共混物的结构,以及它们断口形态特征与其力学行为关系等;
 
  e.此外,电镜还广泛用于复合材料的各种故障结构分析,以及研究高聚物材料
 
 
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